内存芯片测量方法

内存芯片测量方法内存芯片测量方法 　　一、用万用表测量内存芯片的方法 　　在主板与内存的数据引脚是64个，D0-D63，为了保护内存的数据位脚，在D0-D63这64个数据位脚都加有一个阻值不大的电阻起限流作用。而测试仪主要的原理是用程序重复测试内存芯片的每个数据位引脚，看有没有击穿或短路的数据位引脚，还有就是芯片的时钟引脚、地址引脚。所以用万用表测试芯片时也可用测试仪的方法来测，只要红笔对地，黑笔测量排阴阻的阻值，就是内存芯片数据位的阻值来判断是哪个芯片坏了，正常的话每个数据位阻值相同。但还是没有测试仪那么直观，用这种方法可测量DDR内存芯片的好坏。 　　二、 用测试仪测量内存芯片方法 　　根据使用说明书，测量的内存在2A、2B这里，指单组和双组的意思。但16位的芯片有8个，也相当于是两组，8位的芯片有16个也相当于两组。 　　2A为第二组，2B为第一组。 　　测量时会循环测试每一组中的每一个芯片的数据位脚。一般测了3次—5次没坏就是好的。好的芯片为PA 。坏的芯片就显示出坏的数据位引脚。 　　1、 开机跳不进测试，一般有芯片短路、PCB板短路。解决方法为把芯片拆下来换到好的PCB板上试芯片好坏。 　　2、 内存测试仪不测试 D芯片， D芯片可有可无。 　　3、 金手指烧了的话也不能测试，必须把芯片拆下换到好的PCB板上试芯片好。
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